题目内容
（请给出正确答案）
[单选题]
射线探伤时，使用像质计的主要目的是（)。
A.测量缺陷的大小
B.缺陷的位置
C.缺陷的几何不清晰度
D.确定透照底片上影像质量
答案
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题目内容
（请给出正确答案）
A.测量缺陷的大小
B.缺陷的位置
C.缺陷的几何不清晰度
D.确定透照底片上影像质量
答案
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第1题
按照JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》规定，单壁透照中，如果像质计无法放在源侧而放在胶片侧时，应在像质计适当位置放置铅字“F”作为标记，“F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告上注明。()
第3题
按照JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》的规定，小径管可选用通用线型像质计，也可选用专用(等径金属丝)像质计。()
第4题
按照JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》的规定，对于一次曝光完成多张胶片照相的情况，每张底片上都应有像质计影像。()
第11题
A.部门用户可能未执行充分的针对EUC应用的备份程序。
B.雇员可能将未经授权的办公自动化软件拷贝用于私人目的。
C.雇员可能将微机用于获得私人利益。
D.在进行终端仿真时，微机的屏幕显示能力可能不足。
