题目内容
(请给出正确答案)
[单选题]
切割Wafer时机器报警切痕检查:没寻到造成的原因?()
A.光源太亮或太黑
B.CCD光源未在有晶粒位置上检查
C.机器误检查
D.ABC
答案
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A.光源太亮或太黑
B.CCD光源未在有晶粒位置上检查
C.机器误检查
D.ABC
第2题
A.无需调正,继续生产;
B.刀痕未切入晶粒铝面可继续生产;
C.必须立即停机,调校刀痕至切割道中间位置,并跟进至合符切割品质要求
第3题
A.无需使用负极板
B.最佳工作距离为0.5-1.0cm
C.设置切割时调节所需的电刀功率是0-250W
D.关闭氩气瓶开关后应放出机器管道内的残余气体
E.每次使用完毕,应检查气体余量
第4题
A.第一切割鼓轮圆刀
B.最后切割鼓轮圆刀
C.一切三鼓轮圆刀
D.SE切刀