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[单选题]

有的药物在生产和贮存进程中易引入有色杂质,中国药典采纳()。

A.与标准比色液比较的检查法

B.用HPLC法检查

C.用TLC法检查

D.用GC法检查

E.以上均不对

答案
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更多“有的药物在生产和贮存进程中易引入有色杂质,中国药典采纳()。”相关的问题

第1题

药物制剂的检查中,以下说法正确的有()。

A.不再进行杂质检查

B.杂质检查主要是检查制剂生产、贮存过程中引入或产生的杂质

C.杂质检查项目应与原料药的检查项目相同

D.除杂质检查外还应进行制剂方面的常规检查

E.杂质检查项目应与辅料的检查项目相同

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第2题

有关药物中的杂质,下列说法错误的是()。

A.可能是生产过程中引入的

B.可能是在贮藏过程中产生的

C.氯化物、硫酸盐、重金属等都属于信号杂质

D.杂质的限量通常用百分之几或百万分之几(ppm)来表示

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第3题

在药物生产过程中引入杂质的途径包括()

A.原料不纯或未反应完全的原料造成

B.合成过程中产生的中间体或副产物未完全分离

C.制备过程中加入的溶剂残留造成

D.所用金属器皿及装置等引入杂质

E.长期接触外界条件如光照等引起药物降解造成

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第4题

易炭化物检查法A.不溶性杂质B.遇硫酸易炭化的杂质C.水分及其他挥发性物质D.有色杂质E.硫酸盐杂质

易炭化物检查法A.不溶性杂质

B.遇硫酸易炭化的杂质

C.水分及其他挥发性物质

D.有色杂质

E.硫酸盐杂质

溶液颜色检查法A.不溶性杂质

B.遇硫酸易炭化的杂质

C.水分及其他挥发性物质

D.有色杂质

E.硫酸盐杂质

澄清度检查法A.不溶性杂质

B.遇硫酸易炭化的杂质

C.水分及其他挥发性物质

D.有色杂质

E.硫酸盐杂质

干燥失重测定法A.不溶性杂质

B.遇硫酸易炭化的杂质

C.水分及其他挥发性物质

D.有色杂质

E.硫酸盐杂质

请帮忙给出每个问题的正确答案和分析,谢谢!

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第5题

下列有关药物制剂的检查,表述错误的是()

A.对所有原料药所做的检查项目均需检查

B.杂质检查项目应与辅料的检查项目相同

C.主要检查制剂在生产和贮存过程中产生的杂质

D.原料药检查已合格,可不再进行杂质检查

E.当原料药不太稳定时,其制剂中杂质限量通常比原料药稍宽

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第6题

易在储存过程中引入的杂质是()

A.副产物

B.未反应完全的原料

C.降解产物

D.重金属

E.中间体

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第7题

应放在有色瓶中保存的药物是易氧化的药物。()

应放在有色瓶中保存的药物是易氧化的药物。()

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第8题

持续稳定性考察的目的是在______监控已上市兽药的质量,以发现兽药与生产相关的稳定性问题(如杂
持续稳定性考察的目的是在______监控已上市兽药的质量,以发现兽药与生产相关的稳定性问题(如杂

质含量或溶出度特性的变化),并确定兽药能够在标示的贮存条件下,符合质量标准的各项要求。

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第9题

在晶片制造中,有两种方法可以向硅片中引入杂质元素,即()和()。

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第10题

酸性浸出在有色湿法冶金中主要应用于()。
酸性浸出在有色湿法冶金中主要应用于()。

A.从矿石中浸出硅化合物

B.从有色金属氧化矿或中间产品中浸出有色金属

C.分解有色金属含氧酸盐矿物,将其中的伴生金属氧化物除去

D.从冶金中间产品除去某些氧化物或金属杂质

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第11题

以下关于杂质的描述正确的是()。
A、半导体中的杂质会局部的破坏晶格的周期性势场,引起载流子的散射

B、电离的杂质会引起载流子的散射,从而影响载流子的迁移率

C、中性杂质不会对半导体产生影响

D、如果半导体中同时掺入施主杂质和受主杂质,由于所有的杂质都会破坏晶格周期性势场,所以对载流子迁移率的影响是两种杂质浓度之和

E、如果半导体中同时掺入施主杂质和受主杂质,由于杂质的补偿作用,对载流子浓度的影响是两种杂质浓度之差

F、如果半导体中同时掺入施主杂质和受主杂质,而且施主杂质浓度等于受主杂质浓度,由于杂质的补偿作用,该半导体材料属于本征半导体

G、杂质会在半导体的禁带中引入能级

H、如果杂质能级较浅,则杂质易于电离,可为半导体提供导电的载流子或改变半导体的导电类型,如掺入硅中的磷

I、如果杂质能级较深,则杂质不易于电离,可能形成复合中心或陷阱中心

J、如果杂质能级(深能级)的位置在EF附近,该杂质可有效促进载流子的复合,缩短非平衡载流子的寿命,起复合中心的作用,如掺入硅中的金

K、如果杂质能级(深能级)的位置在Ei附近,该杂质可暂时收容非平衡载流子,延长了非平衡载流子的寿命,起陷阱中心的作用

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