测量少数载流子寿命,当出现不稳定波形时,()。
A.调节示波器同步旋钮,使寿命仪输出信号能完整地显示在示波频
B.调节Y轴上下移动旋钮使指数衰减曲线的尾部与标准曲线的曲率相近
C.开启扫描速度微调,使衰减曲线与标准曲线完全重合
D.观察衰减曲线与标准曲线上的1/eV水平线,读出寿命值
A.调节示波器同步旋钮,使寿命仪输出信号能完整地显示在示波频
B.调节Y轴上下移动旋钮使指数衰减曲线的尾部与标准曲线的曲率相近
C.开启扫描速度微调,使衰减曲线与标准曲线完全重合
D.观察衰减曲线与标准曲线上的1/eV水平线,读出寿命值
第7题
A.p-n结两边掺杂浓度相差较大时,反向饱和电流密度主要由掺杂浓度较低的一侧贡献。
B.在一定温度下,与Si材料相比,GaAs具有较小的有效态密度和较大的禁带宽度,所以GaAs可获得更低的反向饱和电流密度。
C.p-n结两边掺杂浓度越高,越有利于降低反向饱和电流密度。
D.与半导体中的载流子寿命、扩散长度、导带价带的有效态密度、掺杂浓度以及禁带宽度有关。赋予他们恰当值可以得到较大的VOC。
第8题
A.调整相邻小区测量报告起作用的时间,用于防止出现不稳定的相邻小区测量报告被用于切换算法
B.用于调整相邻小区的候选资格
C.用于确定小区属于K小区还是L小区
D.用于调整候选小区的数量多少
第11题
B、电离的杂质会引起载流子的散射,从而影响载流子的迁移率
C、中性杂质不会对半导体产生影响
D、如果半导体中同时掺入施主杂质和受主杂质,由于所有的杂质都会破坏晶格周期性势场,所以对载流子迁移率的影响是两种杂质浓度之和
E、如果半导体中同时掺入施主杂质和受主杂质,由于杂质的补偿作用,对载流子浓度的影响是两种杂质浓度之差
F、如果半导体中同时掺入施主杂质和受主杂质,而且施主杂质浓度等于受主杂质浓度,由于杂质的补偿作用,该半导体材料属于本征半导体
G、杂质会在半导体的禁带中引入能级
H、如果杂质能级较浅,则杂质易于电离,可为半导体提供导电的载流子或改变半导体的导电类型,如掺入硅中的磷
I、如果杂质能级较深,则杂质不易于电离,可能形成复合中心或陷阱中心
J、如果杂质能级(深能级)的位置在EF附近,该杂质可有效促进载流子的复合,缩短非平衡载流子的寿命,起复合中心的作用,如掺入硅中的金
K、如果杂质能级(深能级)的位置在Ei附近,该杂质可暂时收容非平衡载流子,延长了非平衡载流子的寿命,起陷阱中心的作用